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奧林巴斯工業顯微鏡無損檢測設備光學檢測產品半導體產品定制產品工業鏡頭（大靶面線掃鏡頭系列（16k/5um）） Allied Vision工業相機

奧林巴斯無損測厚儀 38DL PLUS
創新型奧林巴斯無損測厚儀 38DL PLUS的機身設計堅固耐用，使用起來非常方便，而且測量結果準確可靠。這款手持式測厚儀可以有效地適用于幾乎各種超聲測厚應用，而且與幾乎各種雙晶探頭和單晶探頭相兼容。用途廣泛的38DL PLUS測厚儀可完成的應用，包括使用雙晶探...

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Photron在線雙折射分布檢測系統
Photron在線雙折射分布檢測系統可用于防止不良品流出并迅速探知缺陷的雙折射相位差分布檢測系統KAMAKIRI

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Photron離線雙折射分布檢測系統
Photron離線雙折射分布檢測系統可用于防止不良品流出并迅速探知缺陷的雙折射相位差分布檢測系統KAMAKIRI

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奧林巴斯測量顯微鏡 STM7系列
奧林巴斯測量顯微鏡 STM7系列采用高度耐用、抗振動的框架，并搭配花崗巖表面板，有效隔絕外部振動和干擾，確保顯微鏡在長時間使用后仍能保持高精度測量，使測量可達到亞微米水平。

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奧林巴斯渦流探傷儀Nortec 600
我們在這款袖珍便攜、堅固耐用的奧林巴斯渦流探傷儀Nortec 600，奧林巴斯探傷儀匯集了奧林巴斯在高性能數字電路及渦流探傷方面新開發的技術。NORTEC 600渦流探傷儀帶有清晰明快的5.7英寸VGA顯示屏，并提供真正的全屏模式，在大多數光線條件下都可以呈現...

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Dual vision -2.0x/-8.0x光學系統
Dual vision -2.0x/-8.0x 是一款雙光路、雙倍率光學系統，支持2/3英寸相機，鏡頭倍率-2.0x/-8.0x，物方分辨率1.15um，并且自帶同軸點光源照明以及環形光源。鏡頭接口是C口，可根據客戶定制不同的鏡頭。

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FC UD Optics -3.0x上下對位光學系統
FC UD Optics -3.0x 是一款上下對位光學系統，支持1.1英寸相機，鏡頭倍率-3.0x，物方分辨率1.15um，并且自帶同軸點光源照明，也可以集成環形光源。鏡頭接口是C口，可根據客戶定制不同的鏡頭。

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Up Down Look-0.84x上下對位光學系統
Up Down Look-0.84x是一款上下對位光學系統，支持1/2.5英寸相機，鏡頭倍率-0.84x，物方分辨率6um，并且自帶同軸點光源照明，也可以集成環形光源。鏡頭接口是C口，可根據客戶定制不同的鏡頭。

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多功能通用晶圓搬運機系統
多功能通用晶圓搬運機系統YIT系列對應各種檢查裝置，適用于晶圓、玻璃相關產品自動搬運系統

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顯微鏡隔振平臺
顯微鏡隔振平臺VIP-320/3200系列減少對鏡頭、分析儀器等的振動。非常適合高倍觀察和顯微鏡操作。

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關于我們

深圳山河精測科技有限公司

深圳山河精測科技有限公司，成立于2019年，是一家專注于精密檢測儀器的代理及精密光學結構模塊的定制等業務的企業。目前與奧林巴斯、日本photoLattice、日本MicroSupport等企業達成長期代理與合作；主要代理產品包括：奧林巴斯工業顯微鏡系列，奧林巴斯工業探傷儀器系列，日本photoLattice的光學應力與偏光檢測儀系列等。代理產品主要應用于半導體制造及封裝工藝檢測、3C電子玻璃屏及其精密配件、光學加工、微納材料制造、汽車零部件、MEMS器件等超精密加工行業、PCB行業、石油化工、電力、新能源等行業。能夠根據客戶的特定需求，設計和制造出高度定制化的精密光學結構模塊，滿足不同行業、不同應用場景的多樣化需求。在未來的發展中，深圳山河精測科技有限公司將繼續秉承“專業、精準、創新、服務”的經營理念，不斷拓展業務領域，提升服務品質，為客戶提供更加優質、高效的精密檢測解決方案。

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Photonic Lattice二維雙折射應力儀系統的正確操作流程 PhotonicLattice二維雙折射應力儀系統是一種用于測量材料內部應力分布的先進儀器。其工作原理基于光的雙折射現象，當一束光線穿過存在應力的透明或半透明材料時，由于應力導致的光學各向異性，會使光線產生雙折射效應。具體而言，在沒有應力的材料中，光線沿各個方向的傳播速度相同；而當材料受到應力作用時，沿著應力方向和垂直于應力方向的光學性質會發生改變，使得光線在該材料中的傳播速度出現差異，進而產生兩條不同折射率的光路。該系統通過準確的光學系統將入射光投射到待測材料上，然后使用高...

2025
8/13
奧林巴斯無損測厚儀的使用注意事項奧林巴斯無損測厚儀是一種能夠在不損害被測物體表面或結構的情況下，準確測量其厚度的檢測設備：1.超聲波測厚原理：通過探頭發射超聲波脈沖，這些聲波會穿過被測物體并在不同界面反射回來，探頭接收反射信號后，根據超聲波在材料中的傳播速度和往返時間差，計算出被測物體的厚度。2.磁性測厚原理：基于永磁體(探頭)與磁鋼間的吸引力與它們間距的正比關系，通過準確捕捉探頭與涂層間的距離變動，推算出涂層的具體厚度。3.渦流測厚原理：在探頭線圈中通入高頻交流信號產生電磁場，當探頭接近導體時，導體內部會...

2025
7/8
奧林巴斯探傷儀的主要類型及原理奧林巴斯探傷儀是一種用于檢測材料或工件內部和表面缺陷的無損檢測設備，結合了人工智能技術，可實現自動識別和分析缺陷，提高檢測效率和準確性，減少人為因素的干擾；不斷提升其探測精度和分辨率，能夠檢測出更微小的缺陷，滿足對高質量產品的檢測需求；將多種探傷技術集成于一體，可實現對不同類型缺陷的綜合檢測，提高檢測的可靠性。奧林巴斯探傷儀的主要類型及原理：-超聲波：通過發射超聲波進入被檢測材料，當遇到缺陷時，超聲波會在缺陷處發生反射、折射和散射等現象，儀器接收反射回來的超聲波信號，根據信號...

2025
6/6
奧林巴斯工業檢測顯微鏡的校準方法從結構設計來看，奧林巴斯工業檢測顯微鏡通常采用堅固耐用的機械架構，以適應工業環境中復雜的操作條件和頻繁的使用需求。其底座和支架一般選用高品質金屬材料，確保顯微鏡在長時間使用過程中保持穩定，減少因震動等因素導致的成像模糊或測量誤差。載物臺具備多種移動方式和準確的定位功能，能夠方便地對不同尺寸和形狀的工件進行觀察。無論是微小的電子元件還是較大的機械零件，都可以通過載物臺的準確調整，將其需要檢測的部位準確地放置在視野中心，為后續的檢測工作提供了便利。奧林巴斯工業檢測顯微鏡的校準：1...

2025
5/14

專業服務團隊，行業經驗豐富
價格合理實惠，拒絕胡亂收費
實力可靠，值得信賴
一站式服務，周到完善

技術文章

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2025
7-22 奧林巴斯無損測厚儀可以測量多種類型材料的厚度
奧林巴斯無損測厚儀的優點是無需對被測物體進行破壞性操作，就能準確測量其厚度，保證了被測物體的完整性和功能性，對于一些珍貴、精密或不允許損壞的物體尤為重要，能夠提供高精度的測量結果，滿足各種對測量精度要求較高的應用場景，可以測量多種類型材料的厚度，包括金屬、塑料、陶瓷、玻璃等，還能測量不同形狀、尺寸和表面狀態的物體，如平面、曲面、粗糙表面等，能夠快速地獲取測量結果，實現實時監測和檢測，提高工作效率，尤其在生產線上可以及時反饋產品質量信息，便于及時調整生產工藝。奧林巴斯無損測厚儀...
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2025
6-24 了解下奧林巴斯探傷儀在汽車制造、機械加工行業中的應用
奧林巴斯探傷儀在汽車制造、機械加工等行業，用于檢測零部件的內部缺陷，確保產品質量和安全性，如發動機缸體、曲軸、齒輪等關鍵部件的探傷；對鋼材、鋼板、鋼棒等原材料以及鋼結構件進行質量檢測，及時發現裂紋、夾雜等缺陷，保障建筑工程、橋梁等結構的安全；檢測壓力容器、管道、油罐等設備的腐蝕、裂紋等缺陷，預防泄漏等安全事故的發生。奧林巴斯探傷儀的測定步驟：1.準備工作-儀器檢查：查看外觀有無損壞，各連接線是否完好，電池電量是否充足。同時，檢查探頭是否有磨損、裂紋等缺陷，確保其能正常發射和接...
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2025
5-27 奧林巴斯工業檢測顯微鏡的應用場景有哪些？
在光學系統方面，奧林巴斯工業檢測顯微鏡配備了透鏡和照明裝置，以實現清晰、準確的成像。其物鏡和目鏡經過精心挑選和校準，能夠在不同放大倍數下提供高質量的圖像，確保檢測人員可以清晰地觀察到工件的微觀結構、表面缺陷、紋理特征等細節信息。照明系統則根據不同的檢測需求，可提供多種照明模式，如明場、暗場、偏光等，通過調整照明角度和強度，突出工件的某些特征，便于檢測人員更好地進行分析和判斷。例如，在檢測電路板上的焊接情況時，采用合適的照明模式可以清晰地顯示出焊點是否存在虛焊、漏焊等問題；而對...
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2025
4-23 奧林巴斯測量顯微鏡是種高精度光學儀器
奧林巴斯測量顯微鏡是一種高精度的光學儀器，通過光學系統對微小物體進行放大成像，并通過內置讀數系統實現準確測量。它在科研、工業和醫療等領域有著廣泛的應用前景。奧林巴斯測量顯微鏡的主要結構：-鏡體：是顯微鏡的主體部分，用于支撐和連接其他各個部件。-鏡座：支撐鏡體，確保顯微鏡的穩定性。-載物臺：用于放置被測樣品，通常可以進行X、Y坐標的移動，以及360度的旋轉，部分型號還可以進行高度方向(Z坐標)的測量，以便從不同角度對樣品進行觀察和測量。-物鏡：是靠近樣品的一組透鏡，負責將樣品放...
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2025
4-3 如何延長奧林巴斯3D超景深顯微鏡的使用壽命
奧林巴斯3D超景深顯微鏡作為一種高精度的顯微觀察設備，其養護方式對于保持設備性能、延長使用壽命至關重要。以下是關于奧林巴斯3D超景深顯微鏡的養護方式的詳細描述：1.防塵保護：在使用過程中，應盡量避免在多塵的環境中操作。每次使用完畢后，需用防塵罩將顯微鏡及其附件遮蓋，以防止塵土的污染。在用防塵罩遮蓋前，應先讓顯微鏡和燈冷卻，以防止出現水汽，因為防塵罩不耐熱。2.防潮防霉：盡管奧林巴斯3D超景深顯微鏡采用了特殊的防霉處理工藝，但長期處于濕度較大的環境中，仍會增加霉變的幾率。因此，...
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2025
3-25 奧林巴斯半導體顯微鏡的常見類型有哪些？
奧林巴斯半導體顯微鏡的基本原理在于利用高精度的光學或電子束技術來觀察和分析半導體材料的微觀結構和特性。光學顯微鏡通過光源與物鏡放大成像，而電子顯微鏡則使用電子束掃描樣品并檢測信號成像,兩者各有優勢，結合了這兩者的優點，以實現更深入的觀察和分析。奧林巴斯半導體顯微鏡的主要類型:光學顯微鏡：使用可見光作為光源，通過聚光系統將光線聚焦在樣品上，再通過物鏡將樣品上的細節影像放大并投射到目鏡或檢測器上。光學顯微鏡主要用于觀察樣品的宏觀特征。掃描電子顯微鏡(SEM)：使用聚焦電子束掃描樣...
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TEL：18926772129

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